A milliseconds flash joule heating method for the regeneration of spent cathode carbon

毫秒级闪蒸焦耳加热法再生废阴极碳

彭飞黄, 荣涛朱, 新喜张 & 文军张

中国矿业大学煤炭加工与高效利用教育部重点实验室

中国矿业大学化学工程与技术学院

DOI: 10.1080/10934529.2021.2022422

PDF原文

Journal of Environmental Science and Health, Part A

2022年


论文亮点


研究背景


研究方法

材料制备

将SCC粉碎并过200目筛,取120mg样品放入玻璃管中,两端用石墨块密封,并用导电铜带固定

闪蒸焦耳加热处理

使用自制闪蒸焦耳加热系统,在不同电压(100V,150V,200V)和处理次数(1,3,5)下对样品进行处理

表征方法

使用SEM、EDX、XRD、Raman、XRF等对样品进行形貌和结构表征

分子动力学模拟

使用Materials Studio软件模拟NaF在石墨层中的扩散

电化学测试

将处理后的SCC作为超级电容器电极材料,测试其电容性能

闪蒸焦耳加热装置示意图

图1. (a) 闪蒸焦耳加热装置示意图 (b) 闪蒸过程 (c) 闪蒸前的SCC样品 (d) 闪蒸后的SCC样品


主要结论


结果与分析

SCC的形貌与结构

初始SCC表面覆盖有许多分散的白色物质,主要成分为氟化钠(NaF)、氟化钙(CaF₂)、氧化铝(Al₂O₃)和氟化铝硅酸盐

SCC形貌图

图2. (a) 铝电解槽中SCC的形貌 (b) 粉碎后SCC的形貌 (c) 初始SCC的SEM显微图 (d) F元素分布图 (e) Na元素分布图 (f) Al元素分布图

EDS分析显示,不同位置测量的杂质分布不均匀。氟化物主要存在于NaF(沸点1966K)、CaF₂(沸点2806K)和Na₃AlF₆(熔点1282K)的晶相中


XRD分析结果

XRD分析表明,闪蒸焦耳加热后杂质衍射峰显著减弱,但过高电压(200V)会导致结构缺陷增加

XRD图谱

图3. 不同闪蒸电压和闪蒸次数下SCC的X射线衍射图谱

150V是最佳电压,既能有效去除杂质,又能保持SCC的高石墨化特性


电信号分析

对焦耳热冲击过程中的瞬时功率P(t)和焦耳热Q(t)进行了分析,以理解阴极碳纯化过程

电信号分析

图4. 电信号分析 (a) 典型焦耳热冲击过程中电流、电压和温度随时间的变化(SCC-150V) (b) 功率、焦耳热能和温度随时间的变化

在整个高温热冲击过程中,样品接收的焦耳热占电容器中能量的97%,能量转换率远高于管式炉


拉曼光谱分析

拉曼光谱显示,经过闪蒸处理后,SCC中低于1000cm⁻¹的杂质拉曼峰明显减少

拉曼光谱

图5. (a) 不同闪蒸电压和时间下闪蒸SCC的拉曼光谱 (b) 不同闪蒸电压下SCC的I_D/I_G和I_2D/I_G线图 (c) 不同闪蒸次数下SCC的I_D/I_G和I_2D/I_G线图

I_D/I_G值先减小后增大,表明150V电压下样品的结晶度最佳,200V电压会导致结构缺陷增加


SEM显微分析

SEM分析显示,经过高温闪蒸处理(3000K)后,分散的白色物质消失,丰富的层状结构暴露出来

SEM显微图

图6. 闪蒸前SCC的SEM显微图(a); 不同闪蒸电压下SCC-100(b), SCC-150(c), SCC-200(d)

SCC-150显示出明显的层状结构,表明石墨化结构增强;SCC-200表面的大沟槽可能是由于闪蒸电压过高导致杂质逃逸过快造成的


多次闪蒸效果

增加闪蒸次数可以进一步提高纯化效果,当闪蒸次数增加到5次时,SCC中的杂质元素几乎完全去除

不同闪蒸次数效果

图7. 不同闪蒸次数下SCC-150-3(e)和SCC-150-5(f)的SEM显微图和EDS分析

EDS分析显示,SCC-150-5的碳含量达到98.11%,远高于闪蒸焦耳加热前的碳含量


纯化机理

分子动力学模拟研究了F、Na和C元素在不同温度下的扩散机制

分子动力学模拟

图8. 温度在300K-5000K时F(a)、Na(b)和C(c)的均方位移曲线 (d) 不同温度下扩散元素的扩散系数 (e) 分子动力学构型

当温度超过3000K时,F和Na的扩散系数开始迅速增加,远高于C的扩散系数,这验证了实验中观察到的F和Na元素的减少


电容性能

将F-SCC用作电极材料,验证闪蒸焦耳加热效果

反应机理示意图

图9. 反应机理示意图

CV曲线和充放电曲线

图10. (a-b) SCC和SCC-150-5在不同扫描速率下的CV曲线 (c) SCC和SCC-150-5在不同扫描速率下的充放电曲线

与基于SCC的CV曲线相比,基于SCC-150-5的CV曲线显示出更尖锐的峰、更高的峰强度和更大的封闭面积,表明K+嵌入/脱嵌的电化学动力学增强


电化学阻抗谱分析

通过EIS进一步分析了SCC和SCC-150-5的特性

Nyquist图

图11. SCC和SCC-150-5在0.01Hz-100kHz频率范围内的Nyquist图

SCC-150-5的电荷转移电阻设置为0.64Ω,远低于SCC(2.36Ω)。F-SCC的小电荷转移电阻可归因于闪蒸改善了样品导电网络的电导率


实验装置细节

样品台示意图

图A1. 样品台示意图 (1.石英管 2.样品 3.石墨块 4.固定螺母 5.垫片 6.弹簧 7.橡胶板 8.垫片 9.限位螺母 10.电极 11.电容)

装置电路图

图A2. 装置电路图

信号测试系统

图A3. 信号测试系统