碳纸先后使用丙酮、异丙醇和去离子水超声清洗,随后进行空气等离子处理使其亲水化。将碳纸浸渍在钨酸钠溶液中20分钟,60°C干燥30分钟。使用闪蒸焦耳加热(FJH)技术在900°C下处理不同时间(3,10,30,60秒),制备TC-1至TC-4样品。
采用X射线衍射(XRD)分析相组成,扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)观察形貌,X射线光电子能谱(XPS)进行化学分析,拉曼光谱研究结构特征。
使用三电极系统在0.5M H₂SO₄电解液中进行测试。采用线性扫描伏安法(LSV)评估HER性能,电化学阻抗谱(EIS)分析电荷转移阻力,计时电位法测试长期稳定性。
使用VASP软件包进行密度泛函理论计算,研究WC、W₂C及其复合结构的原子和电子结构,计算d带中心以理解HER增强机制。
图1. (a) 使用碳纸基底制备碳化钨电催化剂的示意图。(b) 制备碳化钨电催化剂的FJH实验装置示意图。(c) FJH过程中的温度-时间曲线。
分析结果: 图1展示了碳化钨电催化剂的制备过程和FJH实验装置。FJH技术能够实现快速升温(1秒内达到900°C)和精确控制处理时间,从而有效调控碳化钨的相组成。温度-时间曲线显示FJH过程具有极快的加热和冷却速率,这有助于形成具有特定相组成的碳化钨催化剂。
图2. (a) 不同FJH处理时间的碳化钨电催化剂的XRD图谱。(b) 拉曼光谱。(c) W 4f高分辨率XPS谱。(d) C 1s高分辨率XPS谱。
分析结果: XRD结果表明不同FJH处理时间有效调控了WC和W₂C相的比例。TC-3样品显示出最佳的相比例,WC:W₂C:W为0.19:0.68:0.13。XPS分析证实了W-C键的形成,TC-3显示出最低的W 4f结合能(31.8eV),表明更高的电子密度和更金属特性,这有利于氢脱附过程。拉曼光谱显示所有样品都存在D带、G带和2D带,表明碳质材料的存在。
图3. 不同FJH处理时间的碳化钨电催化剂的SEM图像: (a,b) TC-1 (3秒), (c,d) TC-2 (10秒), (e,f) TC-3 (30秒), (g,h) TC-4 (60秒)。(i) TC-3催化剂的高分辨率TEM图像。(j) 具有原子空位和晶格畸变缺陷的TC-3催化剂TEM图像。
分析结果: SEM图像显示不同处理时间对催化剂形貌有显著影响。TC-3形成了由均匀分散的约70nm纳米颗粒组成的多孔结构,提供了更多的HER活性位点。TEM分析证实了WC和W₂C两相的存在,观察到的0.279nm和0.305nm晶格间距分别对应W₂C的(100)面和WC的(001)面。TC-3中存在丰富的结构缺陷(原子空位和晶格畸变),这些缺陷由FJH过程的快速加热和冷却速率诱导产生,已知能增强HER性能。
图4. Pt/C电催化剂与不同FJH处理时间的碳化钨电催化剂的比较性能: (a) 极化曲线, (b) Tafel曲线。(c) 碳化钨电催化剂在η=250mV下的Nyquist图。(d) TC-3在不同过电位下的Nyquist图。(e) 不同碳化钨电催化器的电容电流密度与扫描速率关系。(f) TC-3电催化剂在4A/cm²下的长期稳定性测试(经iR补偿)。
分析结果: 电化学测试表明TC-3表现出最佳HER性能。在10mA/cm²电流密度下,过电位为180.97mV;在4A/cm²高电流密度下,过电位仅为387mV,优于其他碳化钨样品。TC-3的电荷转移阻力最低(4.89Ω),表明其具有更高效的电子转移能力。长期稳定性测试显示TC-3在4A/cm²下连续运行超过9天(230小时)仍保持稳定性能,这归因于碳化钨的固有耐腐蚀性和强钨-碳键合。
图5. (a) WC, (b) W₂C和(c) WC-W₂C复合物的原子结构。(d) WC、W₂C和多相碳化钨中W的投影态密度(PDOS)。(虚线表示d带中心)
分析结果: DFT计算揭示了多相碳化钨增强HER性能的机制。多相碳化钨的d带中心(-3.72eV至-4.22eV)低于纯WC(-3.79eV)和W₂C(-4.06eV),表明W元素在多相材料中更稳定。更稳定的W会相对减弱与H的键合,从而比纯WC和W₂C更促进氢析出。WC-W₂C界面处显示出良好的原子排列,形成结构稳定的界面,这有助于材料耐受苛刻的电化学条件。