Weiwei Ping1*, Chengwei Wang1*, Ruiliu Wang1*, Qi Dong1,
Zhiwei Lin1, Alexandra H. Brozena1, Jiaqi Dai1,
Jian Luo2, Liangbing Hu1†
研究表明,烧结温度和时间的优化组合(1500°C, 3s)能够实现致密的石榴石结构,同时最大限度地减少锂损失和副反应。过低温度(约1000°C)即使延长烧结时间(10s)也会产生多孔结构;过高温度(约1700°C)即使仅1s也会导致异常晶粒生长和严重锂损失。XRD分析显示,在1300-1500°C温度范围内烧结3-10秒可获得纯石榴石相和最小锂损失。
PRH烧结的LLZTO薄膜表现出优异的电化学性能:室温离子电导率高达1.0×10⁻³ S/cm,锂离子传输活化能为0.34 eV,临界电流密度达到5 mA/cm²。与传统烧结方法相比,PRH技术显著减少了锂损失,使薄膜离子电导率达到现有薄膜固态电解质的最高水平。EDS mapping显示LLZTO薄膜与Al₂O₃基底界面清晰,无明显的交叉掺杂。
PRH技术具有普适性,可成功制备LLTO、LATP和β-Al₂O₃等多种含挥发性组分的固态电解质薄膜。所有薄膜均呈现均匀致密结构,厚度为5-10μm,且与基底无明显的交叉掺杂或副反应。XRD图谱显示纯相结构,表明快速烧结过程最大限度地减少了Li/Na损失。此外,PRH技术还可用于快速烧结复合薄膜(如LiBO₂-LLZTO),短时间烧结有效防止了材料间的副反应。
通过逐层印刷和烧结制备的LiBO₂-LiCoO₂/LLZTO/Li全固态电池表现出优异的性能:界面电阻低至约100 ohm·cm²(60°C),远低于其他共烧结全固态电池。电池在约450次循环中表现出良好的容量保持率和优异的循环稳定性,初始比容量在30 mA/g电流密度下达到约87 mAh/g。循环后界面电阻仅略微增加至约170 ohm·cm²,证明了PRH技术制备的原位烧结正极和界面具有卓越的稳定性。